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  • BSD-PSM鋼化硼比表面積分析
    BSD-PSM鋼化硼比表面積分析

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PSM

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    鋼化硼比表面積分析,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSM高嶺土比表面積分析
    BSD-PSM高嶺土比表面積分析

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PSM

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    高嶺土比表面積分析,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSMMoPs材料比表面積分析儀
    BSD-PSMMoPs材料比表面積分析儀

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PSM

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    MoPs材料比表面積分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSM鎳合金比表面積分析
    BSD-PSM鎳合金比表面積分析

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PSM

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    鎳合金比表面積分析,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSM鎳合金比表面積微孔分析儀
    BSD-PSM鎳合金比表面積微孔分析儀

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PSM

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    鎳合金比表面積微孔分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSM硬質(zhì)白瓷土比表面積分析
    BSD-PSM硬質(zhì)白瓷土比表面積分析

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PSM

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    硬質(zhì)白瓷土比表面積分析,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)*,。
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  • BSD-PSM勃姆石比表面積微孔分析
    BSD-PSM勃姆石比表面積微孔分析

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PSM

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    勃姆石比表面積微孔分析,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSM珍珠巖高精度微孔分析
    BSD-PSM珍珠巖高精度微孔分析

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PSM

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    珍珠巖高精度微孔分析,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)
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